這些金屬合金元素形成的金屬間化合物顆粒的潛力往往不同于矩陣的這些粒子，即陰極或陽極矩陣暴露在積極的環境中,這導致局部腐蝕的發展妥協的完整性合金在服務。金屬合金材料局部腐蝕的形式和程度是合金特有的。確定相互競爭的合金中不同形式的攻擊的嚴重性和危害性，對于提高由這些合金制成的組件的性能至關重要。因此，在本研究中，我們比較了某些重要工業金屬合金材料的腐蝕腐蝕形式和危害程度，特別是對比了新一代鋁合金和傳統鋁合金在海水環境中的腐蝕腐蝕。常規合金為AA2024-T3、AA6082-T6和AA7050-T7451合金，新一代合金為AA2050-T84、AA2098-T351、AA2198-T8和AA2198-T851合金。這些合金的成分如表1所示。這些合金是商用合金，在它們主要被使用的溫度。在進行腐蝕測試之前，使用SiC紙和金剛石漿料依次拋光樣品至1 μm表面光潔度。

金屬合金材料在3.5% NaCl溶液中浸泡72 h后，合金表面和截面的光學和掃描電鏡進行了研究。拋光的合金樣品被使用，蜂蠟被用來暴露在合金上1平方厘米的區域。研究中采用的其他腐蝕試驗包括電位動態極化試驗、瓊脂凝膠可視化試驗和掃描振動電極技術(SVET)測量。在3.5% NaCl溶液中得到了合金的動電位極化曲線。極化試驗采用三電極電池，包括樣品作為工作電極、銀/氯化銀參比電極和鉑絲作為對電極。掃描在開路電位(OCP)的?100 mV到OCP的+800 mV時開始。OCP測量在偏振測量之前進行了90分鐘，掃描速率為1 m V/s。瓊脂凝膠可視化測試的細節與之前報道的同一組[5]的工作相似，只是這次使用了一個通用指標來代替酚酞。

金屬合金材料對于掃描振動電極技術SVET的測量，采用ASET 4.0軟件的適用電子生產SVET機器，使用5 mM NaCl溶液。SVET圖和最佳圖像每2小時得到一次。關于SVET程序的進一步細節可以在同一組[6]之前發表的一篇文章中找到。掃描電子顯微鏡(SEM)分析使用JEOL JEM 6010 LA和TM 3000顯微鏡配備能量色散x射線能譜(EDS)探測器。透射電鏡(TEM)采用JEM-2100F顯微鏡。金屬合金材料采用35%硝酸甲醇雙射流電解拋光的方法制備了透射電鏡樣品。腐蝕研究的結果分為兩部分。首先，給出了電化學分析的結果并進行了比較。主要比較動電位極化和SVET結果，同時采用瓊脂可視化試驗進一步了解SLC位點周圍的pH變化。隨后，對合金的表面和截面進行了掃描電鏡檢查并進行了比較。